میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)

 

 

 

 

 

نام فارسیمیکروسکوپ نیروی اتمی

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

نام انگلیسی: Atomic force microscopy

مدل دستگاه: Nanowizard11

شرکت سازنده: JPK

معرفی دستگاه:

میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)یک ابزار قدرتمند برای تصویربرداری از سطوح مختلف مانند شیشه، کامپوزیت، پلیمر و فلزات در مقیاس اتمی است که می تواند علاوه بر تصویر دوبعدی، تصویر سه بعدی نیز از سطوح مختلف فراهم کند. ميكرسكوپ نيروي اتمي براي بررسي خواص و ساختار سطحي مواد در ابعاد نانومتر بكار مي رود. این دستگاه سطح نمونه را توسط يك سوزن تيز حس مي كند، سوزن در انتهاي آزاد يك كانتيليور قرار دارد. نيروهاي بين سوزن و سطح نمونه باعث خمشدن يا انحراف كانتيليور مي شود. يك آشكارساز ميزان انحراف كانتيليور را درحالي كه سوزن سطح نمونه را روبش مي كند را اندازه مي گيرد. اندازه گيري انحرافات كانتيليور به كامپيوتر امكان توليد تصوير توپوگرافي سطح را مي دهد. اين دستگاه امكان عملكرد در محيط خلاء، هوا و مايع را دارد. با اين دستگاه امكان بررسي سطوح رسانا يا عايق، نرم يا سخت، منسجم يا پودري، بيولوژيك و آلي يا غيرآلي وجود دارد.

موارد قابل اندازه گيري با دستگاه

مورد اندازه گیری

-       اندازه ذرات و خواص ساختاری سطوح مواد

واحد اندازه گیری

-       نانومتر (nm)

دقت اندازه گیری

-       nm۰.۰۱